（）可用来衡量一定条件下的测量水平和概括地表现测量数据的集中值。

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• （）是指在相同测量条件下，对同一被测量物进行连续多次测量所得结果之间的一致程度，对应批内不精密度。
• （）是由参考物质、参考测量程序和参考测量实验室组成的测量系统。